ZEM-3热电性能分析系统
技术特点：
· 温度检测采用R型热电偶
· 标准搭载欧姆接触自我诊断程序并输出V/I图表
· 基于日本工业标准JIS (热电能JIS 电阻率JIS R 1650-2)
· 试样支架采用独特的接触式平衡机构，保证测量的高重现性
· 采用高级数据采集技术，避免电路板数据采集技术带来的干扰误差
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ZEM-L
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ZEM-LS
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ZEM-3M8
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ZEM-3M10
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测量温度
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-80℃-100℃
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-100℃-500℃
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RT-800℃
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RT-1000℃
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控温精度
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±0.5K
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测量原理
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塞贝克系数：静态直流电； 电阻系数：四端法
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测量范围
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塞贝克系数：0.5μV/K_25V/K； 电阻系数：0.2Ohm-2.5KOhm
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分辨率
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塞贝克系数：10nV/K； 电阻系数： 10nOhm
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测量精度
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塞贝克系数：＜±７％； 电阻系数：＜±10％
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样品尺寸
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直径或正方形：2 to 4 mm2 ×6 to 23mm长
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热电偶导距
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4,6,8 mm （或定制）
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电 流
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0 to 160 mA
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气 氛
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减压He
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