武汉三工卓睿科技有限公司

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多晶硅下打光长脉宽组件测试

  • 产品价格:59000台
  • 供货总量:88
  • 最小起订:1
  • 发货期限:7
  • 所在地区:湖北省
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产品介绍

一、设备功能

适用于单晶硅、多晶硅、Topcon、HIT、HJT、IBC、薄膜电池等光伏组件的电性能测试。

 

二、设备特点

n 采用二次大电容电源及直管氙灯,光源稳定

采用专业设计的滤光片,光谱达到A+级(87.5%-112.5%)

n 长脉宽10-200ms单次闪光可调

可测试大组件2600mm×1600mm

n 下打光平台式设计,便于操作

光照辐度可调200-1200W/㎡,可测试不同光照辐度下的电池性能

n 专业的控制及数据采集系统,确保数据的准确性和系统稳定性

多项电性参数和I-V及P-V曲线;定点电压处的电流与功率显示

n 红外测温,自动温度校正

 

三、设备技术参数

设备型号

ST-TLD3A+

可测量参数

I-V、P-V 曲线、短路电流 Isc、开路电压 Voc、功率 Pmpp、电池效率 Eff、填充因子 FF、功率点的电流 Impp、功率点的电压Umpp、串联电阻 Rser、并联电阻 Rshunt、太阳电池表面温度、Iuld(定点电压对应的电流)、Puld(定点电压对应的功率),其中Uld可以任意设定

可测组件尺寸

2600mm×1600mm

测试速度

240 pcs/小时

闪光时间

10-200ms可调

灯管寿命

>100000次 / 10ms

辐照度范围

200-1200W/㎡

光谱匹配

0.875-1.125(A+级)

辐照度不稳定性STI

≤0.25%(A+级)

辐照度不稳定性LTI

≤1%(A+级)

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