用途：Apogee新的DLI-400测量仪设计用于测量400-700纳米的光合有效辐射（PAR），是一种低成本的选择，只在阳光和一些宽带光源下准确。可以应用测量后的修正系数来提高光源下的准确性；除了测量PAR，DLI-400测量仪还可以计算每日光积分（DLI）和光周期。
DLI-400测量仪有两种不同的屏幕模式：存储数据和实时查看数据。在存储数据屏幕中，它显示DLI测量值、光照时间和哪**收集的数据（*多99天以前）。实时查看数据屏幕显示过去2.5秒内PPFD的运行平均值。
技术参数：
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测量重复性
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小于 0.5 %
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测量范围
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0 至 4000 μmol mˉ2 sˉ1
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长期漂移
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每年少于 2%
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视野
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180°
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光谱测量范围
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(± 5 nm)370 至 650 nm（**阳光）
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余弦响应
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± 5 % 在 75? 天顶角
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响应时间
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2.5 秒
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测量频率
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3分钟
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数据记录容量
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99 天（DLI 和光周期），10 天（30 分钟 PPFD/ePPFD 平均值）
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非线性
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小于 1 %（*高 4000 μmol mˉ2 sˉ1）
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存储数据分辨率 (PPFD)
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0.1 μmol mˉ2 sˉ1（≥1000时屏幕不显示小数）
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存储数据分辨率 (DLI)
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0.1 mol mˉ2 天ˉ1
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存储数据分辨率（光周期）
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0.1小时
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连接性
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Type--C 数据传输的 CSV 文件
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ADC 分辨率
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24 位
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操作环境
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-10 至 60 ℃；0 至 100 % 相对湿度
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电池寿命
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6个月
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重量
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67g
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