用途：Apogee 的新型 DLI-500 日光积分测量仪设计用于测量 400-700 nm 的光合有效辐射 (PAR)，并且在所有光源下都是准确的。如果您正在寻找在阳光和某些宽带光源下准确的低成本选项，请参阅我们的DLI-400 型号。除了测量 PAR，DLI-500 仪还计算日光积分 (DLI) 和光周期。
DLI-500 仪有两种不同的屏幕模式：存储数据和实时取景数据。
在存储数据屏幕中，它会显示 DLI 测量值、光周期以及收集数据的日期（*多 99 天前）。实时取景数据屏幕显示过去 2.5 秒的 PPFD 运行平均值。
技术参数：
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测量重复性
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小于 0.5 %
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测量范围
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0 至 4000 μmol mˉ2 sˉ1
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长期漂移
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每年少于 2%
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视野
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180°
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光谱测量范围
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(± 5 nm) 389 至 692
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余弦响应
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± 5 % 在 75? 天顶角
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响应时间
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2.5 秒
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测量频率
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3分钟
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数据记录容量
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99 天（DLI 和光周期），10 天（30 分钟 PPFD/ePPFD 平均值）
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非线性
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小于 1 %（*高 4000 μmol mˉ2 sˉ1）
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存储数据分辨率 (PPFD)
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0.1 μmol mˉ2 sˉ1（≥1000时屏幕不显示小数）
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存储数据分辨率 (DLI)
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0.1 mol mˉ2 天ˉ1
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存储数据分辨率（光周期）
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0.1小时
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连接性
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Type--C 数据传输的 CSV 文件
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ADC 分辨率
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24 位
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操作环境
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-40 至 70 ℃；0 至 100 % 相对湿度
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电池寿命
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6个月
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重量
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67g
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